AFM diwangun ku cantilever kalawan ujung seukeut (probe) di tungtungna anu dipaké pikeun nyeken permukaan spésimén. Cantilever téh biasana silikon atawa silikon nitrida jeung radius ujung tina kurva dina urutan nanométer. Lamun ujung dibawa ka deukeut permukaan sampel, gaya antara ujung jeung sampel ngakibatkeun deflection tina cantilever nurutkeun hukum Hooke. Gumantung kana kaayaan, gaya nu diukur dina AFM kaasup gaya mékanis kontak, gaya van der Waals, gaya kapilér, gaya beungkeutan kimia, gaya éléktrostatik, gaya magnét Casimir (tempo gaya magnét mikroskop, MFM), gaya solvation, jeung sajabana, jeung kakuatan kuantitas bisa sakaligus diukur ngaliwatan pamakéan jenis tambahan tina probe scanning termal (tempo mikroskop tékstil, mikroskop tékstil, mikroskop tékstil panas, jsb. Patarosan: Naon anu bisa dilakukeun ku gaya anu diukur dina AFM kaasup gaya mékanis kontak, gaya van der Waals, gaya kapilér, gaya beungkeutan kimia, gaya éléktrostatik, gaya magnét Casimir (tempo gaya magnét mikroskop
silikon atawa silikon nitrida