Afhængigt af situationen omfatter de kræfter, der måles i AFM, mekanisk kontaktkraft, van der Waals kræfter, kapillærkræfter, kemiske bindingskræfter, elektrostatiske kræfter, magnetiske kræfter (se magnetisk kraft i mikroskop, MFM), kræfter, solvationskræfter osv. Sammen med kraftmængder kan samtidig måles ved brug af yderligere typer af specialiserede skanningssonder (se termisk skanning i mikroskop, jolectroskopi osv.).
af silicium eller siliciumnitrid