Atomkraftmikroskopi (AFM) eller skanningskraftsmikroskopi (SFM) er en meget højopløsnings type skanningssondmikroskopi (SPM), med påvist opløsning på størrelsesordenen af brøkdele af et nanometer, mere end 1000 gange bedre end den optiske diffraktionsgrænse.
en meget højopløsnings scanningsonde-mikroskopi