

Оптическая глубина каждого пита, представляющего собой некую рельефную структуру, является важным параметром для определения эффективности и функционирования этих структур в оптических системах. Оптическая глубина определяется как минимальное расстояние между поверхностью пита и точкой наблюдения или детектора с максимальной интенсивностью излучения. Этот параметр имеет значение для различных приложений в оптике, таких как микроскопия высокого разрешения (МВР), спектроскопия высокого рассеивания (СВР) и другие методы исследования релифа поверхости объектов. 
Питы являются важными компонентами многих оптических систем благодаря их способности конфокально фокусировать свет на объекте изучения без необжательного освещения окружающей среды. Однако эффективность работы пита зависят от нескольких факторов,